RF Analyzer 简介
xilinx RF参考PG269 Ch1 & Ch2。
特点
- 多达16个14-bit RF-DAC Gen 1/Gen 2:4个14-bit二倍频RF-ADC tile,2/4个14-bit四倍频RF-ADC tile; Gen 3:1/2/4个14-bit二倍频RF-ADC tile,2/4个14-bit四倍频RF-ADC tile。
- 支持多个转换器之间的对齐(多片同步(MTS))
- 支持预编程RF-DAC和RF-ADC,用户可以定义关键参数
- RF-ADC和RF-DAC有多个AX14-Stream数据接口
- 单独的AX14-Lite配置接口
- Gen 1/Gen 2:1x(旁路),2x, 4x, 8x抽取和插值 Gen 3:1x(旁路),2x, 3x, 4x, 5x, 6x, 8x, 10x, 12x, 16x, 20x, 24x, 40x抽取和插值后的额外的2x插值
- 数字复合混频器和数控振荡器(NCO)
- 正交调制校正(QMC),Gen 3每个RF-ADC有嵌入式数字步进衰减器(DSA),每个RF-DAC有可变输出功率(VOP)控制
- 片上时钟系统包含每个tile的PLL
- Gen 3:片上时钟分配网络;TDD模式支持省电模式和RX/Obs共享模式
Dual and Quad RF-ADC/RF-DAC Tiles
Tile类型 | 转换器数量 | 设备类型 | 说明 |
---|---|---|---|
Quad RF-ADC | 4 | Gen 1/Gen 2/Gen 3/DFE | 交错系数为4 |
Dual RF-ADC | 2 | Gen 1/Gen 3/DFE | 交错系数为8,采样率为Quad RF-ADC两倍。 |
Quad RF-DAC | 4 | Gen 1/Gen 2/Gen 3/DFE | 一个专用DUC |
Dual RF-DAC | 2 | Gen 3/DFE | 两个专用DUC,Gen 3/DFE配备Quad RF-DAC或Quad/Dual RF-DAC组合,所有的tile都有外部时钟输入 |
下图为tile结构,虚线表示多个波段的情况。
RF-ADC/DAC
RF-ADC/DAC结构如下图所示。
RF-ADC/DAC特点如下。
ADC | DAC | |
Tile配置 | 每个Tile有2/4个RF-ADC和1个PLL | Gen 1/Gen 2: 每个Tile有4个RF-DAC和1个PLL Gen 3/DFE: 每个Tile有2/4个RF-DAC和1个PLL |
Gen 1/Gen 2: 具有12位RF-ADC分辨率和16位数字信号处理数据路径;在通过DDC块之前,每个12位数据流都与RF-ADC核心输出的16位样本进行MSB对齐。 Gen 3/DFE: 具有14位RF-ADC分辨率和16位数字信号处理数据路径;在通过DDC块之前,每个14位数据流都与RF-ADC核心输出的16位样本进行MSB对齐。 | 具有14位RF-DAC分辨率和16位数字信号处理路径;数据与16位MSB对齐。 | |
实现为四通道(Quad)或两通道(Dual)(采样率取决于设备) | 采样率取决于设备 | |
抽取/插值滤波器 | Gen 1/Gen 2: 1x (旁路滤波器), 2x, 4x, 8x Gen 3/DFE: 1x (旁路滤波器), 2x, 3x, 4x, 5x, 6x, 8x, 10x, 12x, 16x, 20x, 24x, 40x | Gen 1/Gen 2: 1x(旁路滤波器), 2x, 4x, 8x Gen 3/DFE: 1x(旁路滤波器), 2x, 3x, 4x, 5x, 6x, 8x, 10x, 12x, 16x, 20x, 24x, 40x IMR模式下还可用额外的2x |
80%的奈奎斯特带宽,89dB的阻带衰减 | 80%的通带,89dB的阻带衰减 | |
数字复数混频器 | 全复数混频器支持RF-ADC的实数或I/Q输入 | |
每个RF-ADC/DAC带有48位NCO | ||
固定的Fs/4,Fs/2低功耗频率混合模式 | ||
支持I/Q和实数输入信号 | 支持RF-DAC混合模式功能,可最大化第二Nyquist区域中的RF-DAC功率 | |
单/多频带灵活性 | 可配置为实数或I/Q输入 | |
每对RF-ADC可支持2x频带 每个Quad RF-ADC Tile可支持4x频带 | 每对RF-DAC可支持2x带宽 每个RF-DAC Tile可支持4x带宽 | |
其他 | 数字校正外部模拟正交调制器:支持I/Q输入对(两个RF-ADC/DAC)的增益、相位和偏移校正 | |
SYSREF输入信号用于多通道同步 | ||
在旁路模式下可以访问全带宽 | 在旁路模式下可以访问全Nyquist带宽 | |
每个Tile采用CML时钟输入缓冲器,具有片上校准的100Ω终止电阻 提供RF-ADC采样时钟或提供片上PLL的参考时钟 | 每个Tile采用CML时钟输入缓冲器,具有片上校准的100Ω终止电阻 提供RF-DAC采样时钟或提供片上PLL参考时钟(不适用于奇数双RF-DAC Tile) | |
DC耦合RF-ADC输入的输出公共模式参考电压 | Gen 1/Gen 2: 支持20mA或32mA输出功率模式 Gen 3/DFE: 可变输出功率(VOP)支持满量程电流汲取,向后兼容Gen 1和Gen 2的20/32 mA模式 | |
Gen 3/DFE: 数字步进衰减器(DSA);在时分双工(TDD)应用中的省电模式;时分复用(TDD)应用中RX和观测通道的不同抽取因子和FIFO数据速率 | Gen 3/DFE: 在时分复用(TDD)应用中单个功能块的省电模式 | |
输入信号幅度阈值:每个RF-ADC有两个可编程阈值标志; 灵活的AXI4-Stream接口支持广泛的可编程逻辑时钟频率和转换器采样率; 每个RF-ADC专用高速、高性能差分输入缓冲器,具有片上校准的100Ω终止电阻 | Gen 1/Gen 2: 第一Nyquist区的Sinc校正; Gen 3/DFE: 第一和第二Nyquist区的Sinc校正 |